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薄膜類測(cè)試儀
薄膜厚度測(cè)試儀
薄片厚度計(jì)(高精度)
product
產(chǎn)品分類品牌 | SUMSPRING/三泉中石 | 價(jià)格區(qū)間 | 5千-1萬(wàn) |
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品/農(nóng)產(chǎn)品,生物產(chǎn)業(yè),包裝/造紙/印刷,制藥/生物制藥 |
薄片厚度計(jì)(高精度)CHY-S
適用于薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片、硬片、紙板等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準(zhǔn)確測(cè)量。分辨率達(dá)1μm,廣泛應(yīng)用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等單位。
薄片厚度計(jì) 技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍:0~2mm
2.分 辨 率:0.1μm
3. 測(cè)試速度:10次/min
4.測(cè)量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張)
5.接觸面積:50mm2(薄膜),200mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種
6.電 源:AC 220V 50Hz
7.外形尺寸:460mm×350mm×365mm
薄片厚度計(jì)(高精度) 測(cè)試原理
測(cè)厚儀采用接觸式測(cè)試原理,截取一定尺寸試樣,測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上,依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。
作為專業(yè)從事包裝檢測(cè)儀器的行業(yè)制造商-濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司,緊跟國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求,也參與部分國(guó)家藥包材標(biāo)準(zhǔn)的制定工作。利用自身在包裝檢測(cè)領(lǐng)域多年的技術(shù)積累和行業(yè)應(yīng)用經(jīng)驗(yàn),為標(biāo)準(zhǔn)的制定工作提供數(shù)據(jù)和理論的支持,為國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)體系的建立添磚加瓦。
應(yīng)用范圍
產(chǎn)品名稱 | 適用范圍 |
薄膜 | 用于薄膜等軟質(zhì)材料厚度測(cè)量 |
鋁箔 | 對(duì)金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度測(cè)量 |
太陽(yáng)能硅片 | 臺(tái)式測(cè)厚儀接觸式測(cè)試原理更有效的檢測(cè)出太陽(yáng)能硅片各個(gè)點(diǎn)的厚度值 |
紙張 | 更換測(cè)量頭可完成對(duì)紙張、紙板厚度的測(cè)試 |
0531-67813036