高精度自動(dòng)薄膜測(cè)厚儀CHY-U 0.1微米測(cè)厚儀*

規(guī)格：CHY-U

關(guān)鍵字：薄膜測(cè)厚儀,自動(dòng)測(cè)厚儀,0.1微米測(cè)厚儀,高精度測(cè)厚儀,厚度測(cè)量?jī)x

品牌：sumspring三泉中石

在工業(yè)生產(chǎn)和生活應(yīng)用中，薄膜的厚度是一項(xiàng)非常重要的參數(shù)，因?yàn)樗苯雨P(guān)系到薄膜材料能否正常工作，尤其是一些微電子薄膜，光學(xué)薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導(dǎo)薄膜等。除此之外，薄膜材料的力學(xué)性能，透光性能，磁性能，熱導(dǎo)率，表面結(jié)構(gòu)等都與厚度密不可分。                   

濟(jì)南三泉中石生產(chǎn)的CHY-U高精度自動(dòng)薄膜測(cè)厚儀適用于2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度的測(cè)量。該儀器精度高，誤差小，操作簡(jiǎn)單方便，同時(shí)配備微型打印機(jī)，方便查看和打印數(shù)據(jù)結(jié)果。

技術(shù)特征 

1.配備微型打印機(jī)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果 ；

2.打印數(shù)值及每次測(cè)量結(jié)果，方便用戶(hù)分析數(shù)據(jù) ；

3.儀器自動(dòng)保存達(dá)100組測(cè)試結(jié)果，隨時(shí)查看并打印 ；

4.標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶(hù)快速標(biāo)定設(shè)備 ；

5.配備自動(dòng)進(jìn)樣器，可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量，誤差小 ；

6.提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析，準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶(hù)； 

7.配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸。

技術(shù)參數(shù)               

測(cè)量范圍 ：0-2mm （其他量程可定制）               

分辨率 ：0.1um               

測(cè)量速度 ： 10次/min（可調(diào)）               

測(cè)量壓力 ：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）               

接觸面積 ：50mm²（薄膜），200mm²（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種               

進(jìn)樣步矩 ： 0 ～ 1300 mm(可調(diào))               

進(jìn)樣速度 ： 0 ～ 120 mm/s(可調(diào))               

機(jī)器尺寸： 450mm×340mm×390mm (長(zhǎng)寬高)               

重    量： 23Kg               

工作溫度：15℃-50℃                    

試驗(yàn)環(huán)境：無(wú)震動(dòng)，無(wú)電磁干擾               

工作電源：220V 50Hz

參照標(biāo)準(zhǔn)

GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、

ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、

JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817